一、晶圓檢測(cè)顯微鏡(微分干涉金相顯微鏡)儀器的主要用途和特點(diǎn)
DMM-5000晶圓檢測(cè)顯微鏡(微分干涉金相顯微鏡)采用優(yōu)質(zhì)的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),同時(shí)配備明暗場(chǎng)通用的長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)
平場(chǎng)消色差物鏡,多光路的系統(tǒng)設(shè)計(jì),可同時(shí)支持雙目鏡筒觀察和數(shù)碼攝像裝置觀察。DMM-5000倒置金相顯微鏡可廣泛應(yīng)
用于研究金屬的顯微組織,能在明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光、微分干涉下進(jìn)行觀察和攝影,配備專用軟件,更可同步進(jìn)行測(cè)量分析
??晒┭芯繂挝?、冶金、機(jī)械制造工廠以及高等工業(yè)院校進(jìn)行金屬學(xué)與熱處理、金屬物理學(xué)、煉鋼與鑄造過程等金相試驗(yàn)
研究之用。DMM-5000高級(jí)正置金相顯微鏡,選用優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元件,配有超大視場(chǎng)目鏡、落射照明器、平場(chǎng)無限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距
離明暗場(chǎng)物鏡,可選用微分干涉(DIC)觀測(cè)、獲得高清晰的圖像,使圖像襯度更好。是針對(duì)半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)、太陽能硅片
制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的,作為高級(jí)工業(yè)金相顯微鏡使用??蛇M(jìn)行明暗場(chǎng)觀察、落射偏光、DIC觀察,廣泛
用于工廠、研究機(jī)構(gòu)、高等院校對(duì)太陽能電池硅片、半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)、電路基板、FPD、精密模具的檢測(cè)分析。
DMM-5000D電腦型晶圓檢測(cè)顯微鏡(微分干涉金相顯微鏡)是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、先進(jìn)的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、尖端的計(jì)
算機(jī)成像技術(shù)完美地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項(xiàng)高科技產(chǎn)品。既可人工觀察金相圖像,又可以在計(jì)算機(jī)顯示器上很方
便地適時(shí)觀察金相圖像,并可隨時(shí)捕捉記錄金相圖片,從而對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析,評(píng)級(jí)等,還可以保存或打印出高像素金相照
片。
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